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影響壓敏電阻或電阻率測試的設(shè)備因素為測試設(shè)備的泄漏.

測試設(shè)備的泄漏

在測試中，線路中絕緣電阻不高的連線，往往會不適當(dāng)?shù)嘏c被測試樣、取樣電阻等并聯(lián)，對測量結(jié)果可能帶來較大的影響。

為此怎樣來改善影響壓敏電阻測試的設(shè)備因素，請繼續(xù)往下看：為減小測量誤差，應(yīng)采用保護(hù)技術(shù)，在漏電流大的線路上安裝保護(hù)導(dǎo)體，以基本消除雜散電流對測試結(jié)果的影響；

高電壓線由于表面電離，對地有一定泄漏，所以盡量采用高絕緣、大線徑的高壓導(dǎo)線作為高壓輸出線并盡量縮短連線，減少尖端，杜絕電暈放電；

采用聚乙烯、聚四氟乙烯等絕緣材料制作測試臺和支撐體，以避免由于該類原因?qū)е聹y試值偏低。